Globedia.com

×
×

Error de autenticación

Ha habido un problema a la hora de conectarse a la red social. Por favor intentalo de nuevo

Si el problema persiste, nos lo puedes decir AQUÍ

×
cross

Suscribete para recibir las noticias más relevantes

×
Recibir alertas

¿Quieres recibir una notificación por email cada vez que Modesto Rodriguez escriba una noticia?

La OEA y el Sistema Interamericano de Metrología firman acuerdo de cooperación que ayudará al desarrollo sostenible

01/04/2015 21:20 0 Comentarios Lectura: ( palabras)

La OEA y el Sistema Interamericano de Metrología firman acuerdo de cooperación que ayudará al desarrollo sostenible

La Organización de los Estados Americanos (OEA) y el Sistema Interamericano de Metrología (SIM), firmaron hoy un acuerdo de cooperación para fortalecer el desarrollo de las capacidades metrológicas en las Américas, en el marco de la cooperación regional en innovación, competitividad y tecnología. La Secretaria Ejecutiva para el Desarrollo Integral (SEDI) de la OEA, Sherry Tross, aseguró que la rúbrica es "un reflejo de nuestro compromiso" con el SIM. "La alianza que tenemos es realmente fundamental para así poder ser capaces de continuar apoyando a los Estados Miembros en el ámbito del desarrollo sostenible e inclusivo, Estamos hablando de educación, de fuerza de trabajo, de desarrollo e innovación", afirmó. "Nosotros como Organización entendemos que lo que hacemos tiene que responder a lo que necesitan los países y enfocarnos en eso", agregó.

Por su parte, el Presidente del SIM, Héctor Laiz, recordó que la OEA ha apoyado a la entidad desde su establecimiento en 1979, cuando tenía como miembros a 15 países. "Ahora tenemos 34 y estamos muy orgullosos de los hemos hecho durante estos años", añadió. Laiz destacó el apoyo que la OEA ha entregado a la entidad que dirige asegurando que ésta ha sido "crucial en el esarrollo de la SIM", e hizo un llamado a seguir trabajando en conjunto porque aún "tenemos mucho por hacer en el futuro". La metrología es un mecanismo que facilita el comercio doméstico e internacional, sistemas de producción y cadenas globales de valor con participación de las pequeñas y medianas empresas (PYMES) además de ser un factor fundamental para el desarrollo tecnológico e innovación de sectores económicos de alto impacto. Al establecer e implementar medidas, normas y estándares nacionales e internacionales, comparables y compatibles, es uno de los componentes básicos para confirmar la calidad, seguridad y eficacia de materiales, componentes y productos, elementos clave para procurar un desarrollo sostenible e inclusivo, por cuanto el contar con sistemas amplios y precisos de medición permite regular y legislar más eficientemente. El Acuerdo de Cooperación servirá como punto de partida para implementar la colaboración entre la OEA y el SIM, en atención a los mandatos del Plan de Acción de Guatemala aprobados por los Ministros y Altas Autoridades de Ciencia y Tecnología de las Américas el pasado mes de marzo, y así continuar apoyando la mejora de la infraestructura de medidas y normas en el Hemisferio necesarias para apoyar la innovación y la competitividad. El Sistema Interamericano de Metrología es una organización regional conformada por los Institutos Nacionales de Metrología (INM) de los Estados Miembros de la OEA, cuyo objetivo es promover la cooperación internacional, en particular la interamericana y regional en metrología. Desde su creación ha logrado altos niveles de cooperación horizontal, norte-sur y sur-sur, canalizando el apoyo de agencias de cooperación y experiencias exitosas de sus institutos regionales y de otros países e impulsado significativamente la provisión de servicios metrológicos fundamentales para garantizar la calidad y competitividad de los productos destinados a los mercados globales de forma sostenible y segura. La galería de fotos del evento está disponible aquí. Para más información, visite la Web de la OEA en www.oas.org

image


Sobre esta noticia

Autor:
Modesto Rodriguez (23811 noticias)
Fuente:
antillas1.blogspot.com
Visitas:
449
Tipo:
Reportaje
Licencia:
Distribución gratuita
¿Problemas con esta noticia?
×
Denunciar esta noticia por

Denunciar

Comentarios

Aún no hay comentarios en esta noticia.